軸扭測(cè)試儀（簡(jiǎn)稱 STT）是一種用于定性、生產(chǎn)相關(guān)的測(cè)試儀器，圓柱表面的扭曲測(cè)試。可以用扭曲深度可視化扭曲結(jié)構(gòu)200 nm* 和 20 μm 和 200 μm* 之間的周期長(zhǎng)度。

2.2 STT測(cè)試儀器

STT系列包括3種型號(hào)“STT- no"，“STT- nk"和“STT- nv"，它們都是基于各自的
其他。軸扭測(cè)試儀“STT- no"因此代表了STT家族的基本設(shè)備，并且是
配備了一個(gè)放大鏡，可以在工廠機(jī)器現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行快速簡(jiǎn)便的扭曲測(cè)試。
在此基礎(chǔ)設(shè)備上構(gòu)建，有兩個(gè)可選的擴(kuò)展，用于記錄質(zhì)量保證。
“STT-NK"為此配備了一個(gè)相機(jī)，提供靜態(tài)圖像。
除此之外，一個(gè)用于生成協(xié)議和文檔的PC軟件也包含在交付文件中
STT-NV"配備了攝像機(jī)，并允許通過(guò) USB 連接顯示

扭曲結(jié)構(gòu)的連續(xù)實(shí)時(shí)圖像在 PC 顯示器上，直接在工廠現(xiàn)場(chǎng)查看。附帶的 PC 軟件還允許拍攝實(shí)時(shí)圖像的快照，以分析這些

圖像和生成協(xié)議，就像“STT-NK"一樣。所有 3 種設(shè)備類型可用于 2 max-

最大軸直徑（200 毫米和 300 毫米）。

2.3使用 STT 確定光學(xué)扭曲

軸封的密封功能很大程度上取決于扭轉(zhuǎn)。 這些結(jié)構(gòu)可以

用軸扭曲測(cè)試儀可視化。 所有 STT 模型都基于相同的工作原理，并且

用于扭轉(zhuǎn)測(cè)試的相同功能。

• 將 STT 筆直放置，并將其整個(gè)接觸區(qū)域放在測(cè)試樣品的表面上。

• 測(cè)試樣本的表面現(xiàn)在將被激光二極管照亮。

現(xiàn)在可以通過(guò)放大鏡 (NO) 目視檢查試樣，

相機(jī) (NK) 和顯示器或 PC (NV)。

檢查和/或記錄后，STT 將在同一開關(guān)處關(guān)閉

在設(shè)備頂部（位置“0"）。

在非常小的表面部分中，粗糙度和扭曲的功能相關(guān)疊加將是 顯示在光學(xué)扭曲測(cè)試的過(guò)程中。 如果沒(méi)有檢測(cè)到扭曲結(jié)構(gòu)（無(wú)論是無(wú)扭曲 超出設(shè)備規(guī)格的表面或扭曲周期，請(qǐng)參閱第 6 章）下圖是一個(gè)好的 結(jié)果的近似值。

如果在表面上可以檢測(cè)到扭曲，那么產(chǎn)生的圖案就會(huì)發(fā)生巨大的變化。以下-
顯示了可能的扭曲結(jié)構(gòu)及其規(guī)格是如何在可見(jiàn)的扭曲中表示

設(shè)備的圖像。扭曲結(jié)構(gòu)的存在將通過(guò)周期性衍射顯示出來(lái)
在這些情況下，所示衍射線的亮度取決于衍射線的深度

實(shí)際扭曲D_T，較深的結(jié)構(gòu)看起來(lái)比淺的結(jié)構(gòu)更亮。此外，還有一個(gè)
可見(jiàn)衍射線的距離與軸上實(shí)際的扭曲周期之間的關(guān)系。
圖像中的幾條線越接近，對(duì)應(yīng)的周期長(zhǎng)度DP越大
扭曲結(jié)構(gòu)。如果周期長(zhǎng)度對(duì)于軸表面上的照明區(qū)域而言變得太大，
實(shí)際上與沒(méi)有可檢測(cè)到的扭曲相同，衍射線會(huì)會(huì)聚成一條
如上所示的中心線。